НАУЧНАЯ БИБЛИОТЕКА - РЕФЕРАТЫ - Исследование статистических зависимостей для контактных систем типа W UMa

Исследование статистических зависимостей для контактных систем типа W UMa

СОДЕРЖАНИЕ

ВВЕДЕНИЕ....................................................................

..............................3

§1 Классификация тесных двойных

систем.............................................

§2 Алгоритм

ZET.........................................................................

................

§3 Применение метода ZET……………………………………………..

ВЫВОДЫ.....................................................................

..................................

ПРИЛОЖЕНИЕ.................................................................

............................

ЛИТЕРАТУРА.................................................................

..............................

ВВЕДЕНИЕ.

Изучение фотометрических и абсолютных элементов тесных двойных систем,

находящихся на разных стадиях эволюции, представляет большой интерес

с точки зрения статистического исследования этих систем, изучения

строения Галактики, а также теории происхождения и эволюции одиночных и

двойных звезд. Одной из важных характеристик тесных двойных систем

является отношение масс мене массивной компоненты к более массивной

q=m2/m1 . Отношение масс позволяет уточнить эволюционный тип звезды,

определить форму внутренней критической поверхности (т.н. полости Роша), а

также положение первой точки Лагранжа. Для контактных систем, исследуемых в

данной работе, у которых обе компоненты близки друг к другу и практически

наполняют пределы полости Роша, отношение масс q, кроме всего прочего,

определяет конфигурацию всей системы (зависящую от большой полуоси A,

отношения масс q, угла наклона i).

Однако, отношение масс q известны точно для очень малого числа систем,

имеющих данные спектроскопических наблюдений. Фотометрические же данные,

полученные, как правило, с помощью метода синтеза кривых блеска, не

являются надежными, так как этот метод позволяет получить точное решение

лишь для симметричных кривых блеска. Так, например, у контактных систем,

исследуемых в данной работе, вследствие близости компонент друг к

другу, кривые