рефераты рефераты
 

Главная

Разделы

Новости

О сайте

Контакты

 
рефераты

Авиация и космонавтика
Административное право
Арбитражный процесс
Архитектура
Астрология
Астрономия
Банковское дело
Безопасность жизнедеятельности
Бизнес-план
Биология
Бухучет управленчучет
Водоснабжение водоотведение
Военная кафедра
География и геология
Геодезия
Государственное регулирование и налогообложение
Гражданское право
Гражданское процессуальное право
Животные
Жилищное право
Иностранные языки и языкознание
История и исторические личности
Коммуникации связь цифровые приборы и радиоэлектроника
Краеведение и этнография
Кулинария и продукты питания
Культура и искусство
Литература
Логика
Логистика
Маркетинг
Масс-медиа и реклама
Математика
Медицина
Международное и Римское право
Уголовное право уголовный процесс
Трудовое право
Журналистика
Химия
География
Иностранные языки
Без категории
Физкультура и спорт
Философия
Финансы
Фотография
Химия
Хозяйственное право
Цифровые устройства
Таможенная система
Теория государства и права
Теория организации
Теплотехника
Технология
Товароведение
Транспорт
Трудовое право
Туризм
Уголовное право и процесс
Управление
Радиоэлектроника
Религия и мифология
Риторика
Социология
Статистика
Страхование
Строительство
Схемотехника
История
Компьютеры ЭВМ
Культурология
Сельское лесное хозяйство и землепользование
Социальная работа
Социология и обществознание

рефераты
рефераты

НАУЧНАЯ БИБЛИОТЕКА - РЕФЕРАТЫ - Микрополосковый метод исследования диэлектрической проницаемости материалов на сверхвысоких частотах

Микрополосковый метод исследования диэлектрической проницаемости материалов на сверхвысоких частотах

Микрополосковый метод исследования диэлектрической проницаемости материалов

на сверхвысоких частотах

Н.А. Малков, С.В. Мищенко

Микрополосковый метод (МП) измерения диэлектрических параметров

обладает высокой чувствительностью и позволяет полностью перекрыть

частотный диапазон на стыке дециметровых и сантиметровых длин волн (где

измерительные ячейки с распределёнными параметрами имеют неприемлемо

большие габариты)

Он основан на регистрации полюса затухания на амплитудно-частотной

характеристике (а.ч.х.) многозвенной микрополосковой измерительной ячейки.

Положение и глубина полюса затухания определяется соответственно

диэлектрической проницаемости и тангенсом угла диэлектрических потерь

материала подложки, а также геометрией металлических полосок.

Исследовалась измерительная ячейка а.ч.х., которой наблюдались «окна

прозрачности» вблизи частот, кратных полуволновому резонансу в отрезках

м.п. линий, а полюса затухания - на частотах, где индуктивное и ёмкостное

взаимодействие отрезков м.п. линий компенсируют друг друга.

Обнаружено, что диэлектрическая проницаемость подложки [pic]. А.ч.х.

рассматриваемой измерительной ячейки имеет лишь один полюс затухания,

причём он располагается на частоте, всегда ниже частоты полуволнового

резонанса.

А.ч.х. измерительной ячейки имеет открытый максимум, характерный для

подобных схем, что позволяет определять частоту полюса затухания [pic] с

высокой точностью. Как показывают исследования, частота полюса [pic] и

величина затухания СВЧ-мощности [pic] в нём зависят от всех параметров

микрополосковой секции.

При этом в качестве параметра сравнения, характеризующего

чувствительность метода, не только значение относительного сдвига полюса

затухания [pic] в зависимости от изменения [pic] подложки, но и точностью

измерения частоты [pic], зависящей от «остроты» полюса. Здесь «острота»

полюса оценивается отношением f к ширине а.ч.х. по уровню 3 Дб от уровня

максимальных потерь.

Из анализа полученных данных были установлены следующие

закономерности. Чувствительность почти не зависит от длины полосок и не

изменяется при варьировании ширины полосок, но монотонно возрастает с

увеличением отношения [pic] (расстояния между полосками и толщиной

подложки), оставаясь, однако, даже при малых значениях [pic] не меньше, чем

в резонаторном методе.

рефераты
© РЕФЕРАТЫ, 2012

рефераты